Ответ: Измерение матовости
"Матовость" на просвет не измеряется по определению. Чем меньше "матовость", тем острее диаграмма направленности при отражении от исследуемого слоя. Идеальная диффузно отражающая поверхность (максимальная "матовость") характеризуется сферической диаграммой направленности отражения, которая имеет зависимость A=Io*Cos(Fi). Где Io - яркость поверхности, имеющей единичную площадь при наблюдении, когда Fi=0 ; Fi - угол между нормалью к площадке и направлением на оптический датчик. Для измерения подобных величин используются белая и чёрная подложки, подкладываемые под исследуемый образец. На основании этих измерений и определяются параметры S (рассеяние) и K (поглощение).
Читайте работу "Оптика бумаги". Ссылки есть у Шадрина. Поищите поиском по форуму.