Господа!
Вот на такой факт я натолкнулся: погрешность измерения спектрофотометра DTP41 в зависимости от подложки может превышать 1 dE. Выяснил это, когда измерял бумагу Epson Premium Semigloss. Делал такие замеры: бумага с Black Back, бумага с White back, бумага с подложкой из самой себя (Self back, как ISO). Так вот: измерения Black back и white back на этом приборе практически идентичны (для этой бумаги). А вот если измерять self back - результат ощутимо иной! Разница по L - больше 1. Непрозрачность бумаги декларируется Epson как 90%. То есть, в принципе, все логично. Но каков X-Rite - его white back - по сути, профанация. Понятно, что эти погрешности коснутся лишь самых светлых патчей. Но ведь и это уже немало...
PS: только не говорите, что у меня белая подложка в приборе грязная. Следует обратить внимание вот на что: фактически, кроме spot-измерений, прибор X-Rite DTP41 не позволит измерять тест-карты в режиме self-back...
Вот на такой факт я натолкнулся: погрешность измерения спектрофотометра DTP41 в зависимости от подложки может превышать 1 dE. Выяснил это, когда измерял бумагу Epson Premium Semigloss. Делал такие замеры: бумага с Black Back, бумага с White back, бумага с подложкой из самой себя (Self back, как ISO). Так вот: измерения Black back и white back на этом приборе практически идентичны (для этой бумаги). А вот если измерять self back - результат ощутимо иной! Разница по L - больше 1. Непрозрачность бумаги декларируется Epson как 90%. То есть, в принципе, все логично. Но каков X-Rite - его white back - по сути, профанация. Понятно, что эти погрешности коснутся лишь самых светлых патчей. Но ведь и это уже немало...
PS: только не говорите, что у меня белая подложка в приборе грязная. Следует обратить внимание вот на что: фактически, кроме spot-измерений, прибор X-Rite DTP41 не позволит измерять тест-карты в режиме self-back...