- Сообщения
- 9 258
- Реакции
- 1 188
Всем привет!
Как нынче принято говорить, "что-то я туплю" -- в своем хелпе X-Rite пишет следующее:
"В настоящее время компания X-Rite использует технологию измерений, созданную 2 различными фирмами: X-Rite и GretagMacbeth. В результате, данные измерительные устройства до настоящего времени использовали различные фабричные стандарты калибровки.
Стандарт XRGA – это новый общепринятый фабричный стандарт, используемый для калибровки всех полиграфических измерительных устройств X-Rite. Благодаря использованию стандарта XRGA все измерительные устройства X-Rite будут выдавать более согласованные результаты независимо от модели и происхождения технологии.
Примечание: Данные измерений, выполненных в соответствии со стандартом XRGA, могут отличаться от измерений, выполненных при помощи того же устройства не в соответствии со стандартом XRGA. i1Profiler автоматически преобразует данные измерительного устройства в стандарт XRGA. При сравнении или корреляции данных измерений, полученных при помощи стороннего приложения не в стандарте XRGA, могут наблюдаться различия."
Но ведь спектральный коэффициент отражения поверхности -- это объективная физическая величина. Какие тут могут быть различия, если углы освещения и замера неизменны?
Проще говоря, кто в курсе, в чем состоит разница между старым и новым стандартами?
Спасибо.
Как нынче принято говорить, "что-то я туплю" -- в своем хелпе X-Rite пишет следующее:
"В настоящее время компания X-Rite использует технологию измерений, созданную 2 различными фирмами: X-Rite и GretagMacbeth. В результате, данные измерительные устройства до настоящего времени использовали различные фабричные стандарты калибровки.
Стандарт XRGA – это новый общепринятый фабричный стандарт, используемый для калибровки всех полиграфических измерительных устройств X-Rite. Благодаря использованию стандарта XRGA все измерительные устройства X-Rite будут выдавать более согласованные результаты независимо от модели и происхождения технологии.
Примечание: Данные измерений, выполненных в соответствии со стандартом XRGA, могут отличаться от измерений, выполненных при помощи того же устройства не в соответствии со стандартом XRGA. i1Profiler автоматически преобразует данные измерительного устройства в стандарт XRGA. При сравнении или корреляции данных измерений, полученных при помощи стороннего приложения не в стандарте XRGA, могут наблюдаться различия."
Но ведь спектральный коэффициент отражения поверхности -- это объективная физическая величина. Какие тут могут быть различия, если углы освещения и замера неизменны?
Проще говоря, кто в курсе, в чем состоит разница между старым и новым стандартами?
Спасибо.